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薄膜方阻測量自動化設備
隨著石墨烯薄膜、碳納米薄膜生產技術的成熟,其應用越來越廣泛。薄膜電阻阻值是其重要的特性參數之一。測量薄膜的阻值需要大量的人力,并且在記錄過程還會出現失誤等問題。薄膜方阻自動測量設備能夠一次測量多個阻值,并自動記錄測試結果,輸出測量阻值的均值與方差,同時還能直觀顯示薄膜上各點阻值的分布狀態,為薄膜的后期使用提供了便利。
產品優勢
  • 國內首創,單次測試32個點位方阻
    設備單次可測試32個點位方阻,相比傳統人工測量方式,大幅提高了測試效率,降低了工人勞動強度。
  • 高精度測量
    采用先進的測量技術和算法,能夠準確測量薄膜上各點阻值的分布狀態,為薄膜的后期使用提供了可靠的數據支持。
  • 極大程度提高了效率,單班測試產量增長了3倍
    測量結果以直觀的方式呈現,方便用戶對薄膜的阻值分布進行快速分析和判斷。
產品亮點
高效率生產
  • ? 設備具備自動化測量功能,無需人工干預即可完成整個測量過程,大大提高了測量效率。
智能化管理
  • ? 設備配備有智能數據處理系統,能夠自動記錄、分析和輸出測量數據
數據可視化
  • ? 測量結果以直觀的方式呈現,方便用戶對薄膜的阻值分布進行快速分析和判斷。
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